リガク・ホールディングス 268A ID: 476
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…ン(Si)と炭素(C)で構成される化合物半導体材料を指す。 X線透過(イメージング) X線画像及びX線を用いた断層撮影法を指す。 X線回折(XRD) 結晶試料にX線を照射した際、X線が原子の周りにある電子によって散乱し、干渉した結果により起こる回折パターンから試料の結晶構造情報を得る手…
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